Специалисты Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета (СПбГЭТУ «ЛЭТИ») создали инновационную систему для диагностики и тестирования многослойных полупроводников, толщина слоев в которых составляет всего несколько десятков нанометров. Изготовление таких материалов требует высокой точности, а их применение в электронике позволяет создавать гораздо более эффективные и компактные приборы, сообщили ТАСС в четверг в пресс-службе ЛЭТИ.
